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Dektak XTL探针式轮廓仪
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和
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Dektak XTL 探针式表面轮廓仪
Dektak XTL Stylus Profiler System Bruker’s new Dektak XTL™ stylus profiler accommodates
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探针式轮廓仪系统Dektak XTL
Dektak XTL探针式轮廓仪系统 严格质量保证与质量控制下,获得300毫米zei优性能探测 Bruker公司的新型Dektak XTL™探针式轮廓仪系统可容纳多达350毫米x350
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KLA台阶仪 D-300 探针式 表面轮廓仪
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bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站
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Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT
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布鲁克轮廓仪 探针式表面 探针式表面(Stylus Profiler System)
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EPMA-1720系列电子探针EPMA电子探针 SPM & EPMA技术用于玻璃表面气泡分析
岛津电子探针EPMAEPMA-1720系列用于测定玻璃 ,符合行业标准/ VBA。适用 玻璃表面气泡区域的形貌及元素分析 项目。 采用SPM和EPMA技术观测玻璃表面的缺陷类型及缺陷处的元素分布,对
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